Io-4-wyk-toc
Z Studia Informatyczne
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania
Spis treści
- Kontrola jakości artefaktów
- Plan wykładów
- Plan wykładów(1)
- Plan wykładów(2)
- Plan wykładu
- Jakość oprogramowania
- Koszt naprawy błędu
- Zasady skutecznego działania
- Jakość oprogramowania
- Osiem wymiarów jakości
- Cztery filary zapewniania jakości
- Przetargi dot. kontroli jakości
- Plan wykładu
- Cele testowania wg Glena Myersa (1979)
- Pracochłonność testowania
- Rodzaje testowania
- Rodzaje testowania(1)
- Plan wykładu
- Anomalia
- Przegląd
- Rola przeglądów
- Inspekcje zgodne z IEEE 1028
- Inspekcje zgodne z IEEE 1028(1)
- Inspekcje zgodne z IEEE 1028(2)
- Inspekcje Fagana
- Inspekcje Fagana(1)
- Inspekcje Fagana(2)
- Inspekcje Fagana(3)
- Inspekcje Fagana(4)
- Plan wykładu
- Szacowanie liczby nie wykrytych defektów
- Wstrzykiwanie defektów
- Szacowanie liczby nie wykrytych defektów
- 2-krotne łowienie
- 2-krotne łowienie(1)
- 2-krotne łowienie(2)
- 2-krotne łowienie(3)
- 2-krotne łowienie(4)
- 2-krotne łowienie(5)
- 2-krotne łowienie(6)
- 2-krotne łowienie(7)
- 2-krotne łowienie(8)
- Plan wykładu
- Jakość oprogramowania
- Cztery filary zapewniania jakości
- Rodzaje testowania
- Inspekcje zgodne z IEEE 1028
- Wstrzykiwanie defektów
- 2-krotne łowienie
- Dziękuję za uwagę