Io-4-wyk-toc

Z Studia Informatyczne
Wersja z dnia 01:05, 10 wrz 2006 autorstwa MOchodek (dyskusja | edycje)
(różn.) ← poprzednia wersja | przejdź do aktualnej wersji (różn.) | następna wersja → (różn.)
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania

Spis treści

  1. Kontrola jakości artefaktów
  2. Plan wykładów
  3. Plan wykładów(1)
  4. Plan wykładów(2)
  5. Plan wykładu
  6. Jakość oprogramowania
  7. Koszt naprawy błędu
  8. Zasady skutecznego działania
  9. Jakość oprogramowania
  10. Osiem wymiarów jakości
  11. Cztery filary zapewniania jakości
  12. Przetargi dot. kontroli jakości
  13. Plan wykładu
  14. Cele testowania wg Glena Myersa (1979)
  15. Pracochłonność testowania
  16. Rodzaje testowania
  17. Rodzaje testowania(1)
  18. Plan wykładu
  19. Anomalia
  20. Przegląd
  21. Rola przeglądów
  22. Inspekcje zgodne z IEEE 1028
  23. Inspekcje zgodne z IEEE 1028(1)
  24. Inspekcje zgodne z IEEE 1028(2)
  25. Inspekcje Fagana
  26. Inspekcje Fagana(1)
  27. Inspekcje Fagana(2)
  28. Inspekcje Fagana(3)
  29. Inspekcje Fagana(4)
  30. Plan wykładu
  31. Szacowanie liczby nie wykrytych defektów
  32. Wstrzykiwanie defektów
  33. Szacowanie liczby nie wykrytych defektów
  34. 2-krotne łowienie
  35. 2-krotne łowienie(1)
  36. 2-krotne łowienie(2)
  37. 2-krotne łowienie(3)
  38. 2-krotne łowienie(4)
  39. 2-krotne łowienie(5)
  40. 2-krotne łowienie(6)
  41. 2-krotne łowienie(7)
  42. 2-krotne łowienie(8)
  43. Plan wykładu
  44. Jakość oprogramowania
  45. Cztery filary zapewniania jakości
  46. Rodzaje testowania
  47. Inspekcje zgodne z IEEE 1028
  48. Wstrzykiwanie defektów
  49. 2-krotne łowienie
  50. Dziękuję za uwagę
Źródło: „https://wazniak.mimuw.edu.pl/index.php?title=Io-4-wyk-toc&oldid=47808”