Io-1-wyk-Slajd45

Z Studia Informatyczne
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania

Plan wykładu

Plan wykładu


Kolejny wykład będzie poświęcony kontroli jakości artefaktów.


<< Poprzedni slajd | Spis treści | Następny slajd >>

Źródło: „https://wazniak.mimuw.edu.pl/index.php?title=Io-1-wyk-Slajd45&oldid=66734”