Io-1-wyk-Slajd45

Z Studia Informatyczne
Wersja z dnia 19:44, 28 lis 2006 autorstwa MOchodek (dyskusja | edycje)
(różn.) ← poprzednia wersja | przejdź do aktualnej wersji (różn.) | następna wersja → (różn.)
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania

Plan wykładu

Plan wykładu


Kolejny wykład będzie poświęcony kontroli jakości artefaktów.


<< Poprzedni slajd | Spis treści | Następny slajd >>

Źródło: „https://wazniak.mimuw.edu.pl/index.php?title=Io-1-wyk-Slajd45&oldid=66734”