Zpo-4-wyk-Slajd28

Z Studia Informatyczne
Wersja z dnia 10:57, 17 paź 2006 autorstwa Bwalter (dyskusja | edycje)
(różn.) ← poprzednia wersja | przejdź do aktualnej wersji (różn.) | następna wersja → (różn.)
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania

Wyniki empirycznej oceny metryk MOOD

Wyniki empirycznej oceny metryk MOOD


Metryki stają się użyteczne, jeżeli są predyktorami zewnętrznych własności oprogramowania. W przypadku zestawu MOOD istnieje wiele raportów dotyczących walidacji metryk i ich korelacji z jakością oprogramowania, liczbą błędów i pielęgnowalnością.

Autorem wielu obserwacji jest twórca metryk, F. Brito e Abreu, który weryfikował je na wybranych bibliotekach obiektowych, spośród których niektóre z nich zostały już przedstawione na poprzednich slajdach. Wyniki jego badań pokazują m.in. następujące fakty:

  • metryka AHF jest ograniczona od dołu (tzn. posiada wartość, poniżej której jakość systemu spada), natomiast metryki MHF, AIF, MIF i PF są ograniczone od góry;
  • wysokie wartości metryk MHF i MIF (czyli wysoki poziom hermetyzacji oraz powszechne dziedziczenie metod) powodują spadek gęstości błędów, oraz ograniczenie koszty związanego z ich usuwaniem;
  • nadużycie dziedziczenia metod prowadzi jednak do podwyższenia kosztu pielęgnacji;
  • optymalną wartością metryki AHF jest 100%.

Natomiast ewaluacja metryk MOOD dla 9 komercyjnych systemów dokonana przez Harrisona, Counsella i Nithiego pokazała, że dostarczają one ogólnej informacji o jakości badanego systemu


<< Poprzedni slajd | Spis treści | Następny slajd >>