PEE Moduł 13: Różnice pomiędzy wersjami

Z Studia Informatyczne
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania
Daniel-PW (dyskusja | edycje)
Nie podano opisu zmian
Daniel-PW (dyskusja | edycje)
Nie podano opisu zmian
Linia 1: Linia 1:
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd1.png|thumb|500px]]
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd1.png|thumb|500px]]
|valign="top"|
|valign="top"|'''Wykład 13. Modele elementów półprzewodnikowych'''
|}
|}


Linia 8: Linia 8:
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd2.png|thumb|500px]]
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd2.png|thumb|500px]]
|valign="top"|
|valign="top"|'''Wprowadzenie'''
 
Do analizy działania i projektowania układów elektronicznych stosuje się odpowiednie modele matematyczne oraz fizyczno-obwodowe elementów półprzewodnikowych wchodzących w skład tych układów. Modele te uwzględniają określone stany pracy, właściwości (np. wpływ temperatury na parametry) i nieliniowość charakterystyk danego elementu.
 
|}
|}


Linia 15: Linia 18:
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd3.png|thumb|500px]]
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd3.png|thumb|500px]]
|valign="top"|
|valign="top"|'''Rodzaje modeli.''' Modelem dowolnego urządzenia technicznego nazywamy zbiór informacji umożliwiających przewidywanie właściwości i analizowanie działania tego urządzenia w różnych stanach i warunkach pracy. W elektronice modele mają zazwyczaj postać równań matematycznych lub częściej są w postaci schematów zastępczych równoważnych przyjętym opisom matematycznym. W skład modelu mogą wchodzić dodatkowo charakterystyki prądowo-napięciowe lub inne zależności wielkości elektrycznych i nieelektrycznych poszczególnych przyrządów, elementów, większych podzespołów  lub nawet całych układów.
 
W zależności od stopnia skomplikowania modele fizyczno-obwodowe służą do analizy i projektowania układów elektronicznych bez użycia komputera lub przy jego użyciu. Modele przyrządów półprzewodnikowych można różnie sklasyfikować.
 
Przyjmując za kryterium zakresy sygnałów jakie wystąpią na zaciskach przyrządu mamy modele:
 
*nieliniowe (dla dużych sygnałów)
*liniowe (małosygnałowe).
 
Ze względu na rodzaj sygnałów są modele:
 
*statyczne (stałoprądowe)
*dynamiczne (zmiennoprądowe), które są najczęściej przeznaczone do analizy obwodów w dziedzinie czasu lub częstotliwości.
 
Inne kryteria podziału mają na celu zaakcentowanie pewnych szczególnych cech przyrządu półprzewodnikowego, np. wpływu temperatury. Mamy tu modele:
 
*izotemperaturowe
*nieizotemperaturowe
 
|}
|}


Linia 22: Linia 43:
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd4.png|thumb|500px]]
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd4.png|thumb|500px]]
|valign="top"|
|valign="top"|'''Modele diod'''
 
Dla diod sygnałowych i diod mocy, kiedy pełnią one funkcje jednokierunkowych zaworów, najważniejsze jest zamodelowanie statycznej charakterystyki prądowo-napięciowej. Przykładową charakterystykę rzeczywistej diody przedstawiono na slajdzie. Najczęściej w katalogach podaje się charakterystyki w skali półlogarytmicznej. Ponieważ temperatura ma zasadniczy wpływ na ich przebieg, temperatura złącza jest tutaj parametrem.
|}
|}


Linia 29: Linia 52:
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd5.png|thumb|500px]]
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd5.png|thumb|500px]]
|valign="top"|
|valign="top"|Do prostych obliczeń charakterystykę diody aproksymuje się trzema odcinkami prostych przyjmując, dla poszczególnych obszarów pracy: przewodzenia, zaporowego i przebicia, charakterystyczne wartości rezystancji. Odcinek charakterystyki w zakresie przebicia (rezystancja <math>r_{BR}\,</math>) nie jest brany pod uwagę, ponieważ podczas normalnej pracy urządzeń, w których zastosowano daną diodę, przebicie napięciowe jest stanem awaryjnym powodującym uszkodzenie urządzenia. Napięcie przebicia <math>U_{BR}\,</math> nie jest podawane w katalogach przez producentów elementów półprzewodnikowych.
|}
|}


Linia 36: Linia 59:
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
{| border="0" cellpadding="4" width="100%"
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd6.png|thumb|500px]]
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd6.png|thumb|500px]]
|valign="top"|
|valign="top"|Ponieważ rezystancja obszaru zaporowego jest bardzo duża, około 107 razy większa od rezystancji w stanie przebicia i przewodzenia to często stosuje się dwuodcinkową aproksymację charakterystyki diody, np. w celu wyznaczenia strat mocy w stanie przewodzenia.
 
Dla tego modelu w stanie przewodzenia można napisać:
 
<math>\displaystyle U_F=U_{F(T0)}+I_F r_F</math>
 
gdzie:
 
<math>\displaystyle U_{F(T0)}</math> - napięcie progu załączenia diody,
<math>\displaystyle r_F\,</math> - rezystancja dynamiczna diody.
 
|}
|}



Wersja z 01:07, 13 wrz 2006

Wykład 13. Modele elementów półprzewodnikowych

Wprowadzenie

Do analizy działania i projektowania układów elektronicznych stosuje się odpowiednie modele matematyczne oraz fizyczno-obwodowe elementów półprzewodnikowych wchodzących w skład tych układów. Modele te uwzględniają określone stany pracy, właściwości (np. wpływ temperatury na parametry) i nieliniowość charakterystyk danego elementu.


Rodzaje modeli. Modelem dowolnego urządzenia technicznego nazywamy zbiór informacji umożliwiających przewidywanie właściwości i analizowanie działania tego urządzenia w różnych stanach i warunkach pracy. W elektronice modele mają zazwyczaj postać równań matematycznych lub częściej są w postaci schematów zastępczych równoważnych przyjętym opisom matematycznym. W skład modelu mogą wchodzić dodatkowo charakterystyki prądowo-napięciowe lub inne zależności wielkości elektrycznych i nieelektrycznych poszczególnych przyrządów, elementów, większych podzespołów lub nawet całych układów.

W zależności od stopnia skomplikowania modele fizyczno-obwodowe służą do analizy i projektowania układów elektronicznych bez użycia komputera lub przy jego użyciu. Modele przyrządów półprzewodnikowych można różnie sklasyfikować.

Przyjmując za kryterium zakresy sygnałów jakie wystąpią na zaciskach przyrządu mamy modele:

  • nieliniowe (dla dużych sygnałów)
  • liniowe (małosygnałowe).

Ze względu na rodzaj sygnałów są modele:

  • statyczne (stałoprądowe)
  • dynamiczne (zmiennoprądowe), które są najczęściej przeznaczone do analizy obwodów w dziedzinie czasu lub częstotliwości.

Inne kryteria podziału mają na celu zaakcentowanie pewnych szczególnych cech przyrządu półprzewodnikowego, np. wpływu temperatury. Mamy tu modele:

  • izotemperaturowe
  • nieizotemperaturowe

Modele diod

Dla diod sygnałowych i diod mocy, kiedy pełnią one funkcje jednokierunkowych zaworów, najważniejsze jest zamodelowanie statycznej charakterystyki prądowo-napięciowej. Przykładową charakterystykę rzeczywistej diody przedstawiono na slajdzie. Najczęściej w katalogach podaje się charakterystyki w skali półlogarytmicznej. Ponieważ temperatura ma zasadniczy wpływ na ich przebieg, temperatura złącza jest tutaj parametrem.


Do prostych obliczeń charakterystykę diody aproksymuje się trzema odcinkami prostych przyjmując, dla poszczególnych obszarów pracy: przewodzenia, zaporowego i przebicia, charakterystyczne wartości rezystancji. Odcinek charakterystyki w zakresie przebicia (rezystancja rBR) nie jest brany pod uwagę, ponieważ podczas normalnej pracy urządzeń, w których zastosowano daną diodę, przebicie napięciowe jest stanem awaryjnym powodującym uszkodzenie urządzenia. Napięcie przebicia UBR nie jest podawane w katalogach przez producentów elementów półprzewodnikowych.

Ponieważ rezystancja obszaru zaporowego jest bardzo duża, około 107 razy większa od rezystancji w stanie przebicia i przewodzenia to często stosuje się dwuodcinkową aproksymację charakterystyki diody, np. w celu wyznaczenia strat mocy w stanie przewodzenia.

Dla tego modelu w stanie przewodzenia można napisać:

UF=UF(T0)+IFrF

gdzie:

UF(T0) - napięcie progu załączenia diody, rF - rezystancja dynamiczna diody.