PEE Moduł 13: Różnice pomiędzy wersjami
Z Studia Informatyczne
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania
Nie podano opisu zmian |
Nie podano opisu zmian |
||
Linia 1: | Linia 1: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd1.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd1.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|'''Wykład 13. Modele elementów półprzewodnikowych''' | ||
|} | |} | ||
Linia 8: | Linia 8: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd2.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd2.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|'''Wprowadzenie''' | ||
Do analizy działania i projektowania układów elektronicznych stosuje się odpowiednie modele matematyczne oraz fizyczno-obwodowe elementów półprzewodnikowych wchodzących w skład tych układów. Modele te uwzględniają określone stany pracy, właściwości (np. wpływ temperatury na parametry) i nieliniowość charakterystyk danego elementu. | |||
|} | |} | ||
Linia 15: | Linia 18: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd3.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd3.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|'''Rodzaje modeli.''' Modelem dowolnego urządzenia technicznego nazywamy zbiór informacji umożliwiających przewidywanie właściwości i analizowanie działania tego urządzenia w różnych stanach i warunkach pracy. W elektronice modele mają zazwyczaj postać równań matematycznych lub częściej są w postaci schematów zastępczych równoważnych przyjętym opisom matematycznym. W skład modelu mogą wchodzić dodatkowo charakterystyki prądowo-napięciowe lub inne zależności wielkości elektrycznych i nieelektrycznych poszczególnych przyrządów, elementów, większych podzespołów lub nawet całych układów. | ||
W zależności od stopnia skomplikowania modele fizyczno-obwodowe służą do analizy i projektowania układów elektronicznych bez użycia komputera lub przy jego użyciu. Modele przyrządów półprzewodnikowych można różnie sklasyfikować. | |||
Przyjmując za kryterium zakresy sygnałów jakie wystąpią na zaciskach przyrządu mamy modele: | |||
*nieliniowe (dla dużych sygnałów) | |||
*liniowe (małosygnałowe). | |||
Ze względu na rodzaj sygnałów są modele: | |||
*statyczne (stałoprądowe) | |||
*dynamiczne (zmiennoprądowe), które są najczęściej przeznaczone do analizy obwodów w dziedzinie czasu lub częstotliwości. | |||
Inne kryteria podziału mają na celu zaakcentowanie pewnych szczególnych cech przyrządu półprzewodnikowego, np. wpływu temperatury. Mamy tu modele: | |||
*izotemperaturowe | |||
*nieizotemperaturowe | |||
|} | |} | ||
Linia 22: | Linia 43: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd4.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd4.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|'''Modele diod''' | ||
Dla diod sygnałowych i diod mocy, kiedy pełnią one funkcje jednokierunkowych zaworów, najważniejsze jest zamodelowanie statycznej charakterystyki prądowo-napięciowej. Przykładową charakterystykę rzeczywistej diody przedstawiono na slajdzie. Najczęściej w katalogach podaje się charakterystyki w skali półlogarytmicznej. Ponieważ temperatura ma zasadniczy wpływ na ich przebieg, temperatura złącza jest tutaj parametrem. | |||
|} | |} | ||
Linia 29: | Linia 52: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd5.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd5.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|Do prostych obliczeń charakterystykę diody aproksymuje się trzema odcinkami prostych przyjmując, dla poszczególnych obszarów pracy: przewodzenia, zaporowego i przebicia, charakterystyczne wartości rezystancji. Odcinek charakterystyki w zakresie przebicia (rezystancja <math>r_{BR}\,</math>) nie jest brany pod uwagę, ponieważ podczas normalnej pracy urządzeń, w których zastosowano daną diodę, przebicie napięciowe jest stanem awaryjnym powodującym uszkodzenie urządzenia. Napięcie przebicia <math>U_{BR}\,</math> nie jest podawane w katalogach przez producentów elementów półprzewodnikowych. | ||
|} | |} | ||
Linia 36: | Linia 59: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd6.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M13_Slajd6.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|Ponieważ rezystancja obszaru zaporowego jest bardzo duża, około 107 razy większa od rezystancji w stanie przebicia i przewodzenia to często stosuje się dwuodcinkową aproksymację charakterystyki diody, np. w celu wyznaczenia strat mocy w stanie przewodzenia. | ||
Dla tego modelu w stanie przewodzenia można napisać: | |||
<math>\displaystyle U_F=U_{F(T0)}+I_F r_F</math> | |||
gdzie: | |||
<math>\displaystyle U_{F(T0)}</math> - napięcie progu załączenia diody, | |||
<math>\displaystyle r_F\,</math> - rezystancja dynamiczna diody. | |||
|} | |} | ||
Wersja z 01:07, 13 wrz 2006
![]() |
Wykład 13. Modele elementów półprzewodnikowych |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |