Io-1-wyk-Slajd51

Z Studia Informatyczne
Wersja z dnia 19:44, 28 lis 2006 autorstwa MOchodek (dyskusja | edycje)
(różn.) ← poprzednia wersja | przejdź do aktualnej wersji (różn.) | następna wersja → (różn.)
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania

Wykład nt. kontroli jakości

Wykład nt. kontroli jakości


W trakcie wykładu poświęconego kontroli jakości artefaktów przedstawię krótko najważniejsze pojęcia dotyczące jakości i testowania, zaprezentuję sposób przeprowadzania inspekcji zgodny ze standardem IEEE 1028 i pokażę, jak można oszacować liczbę defektów, jakie zakradły się do artefaktu (łącznie z tymi, które nie zostały w trakcie kontroli jakości wykryte).


<< Poprzedni slajd | Spis treści | Następny slajd >>