Io-10-wyk-toc

Z Studia Informatyczne
Wersja z dnia 06:25, 11 wrz 2006 autorstwa Bwalter (dyskusja | edycje)
(różn.) ← poprzednia wersja | przejdź do aktualnej wersji (różn.) | następna wersja → (różn.)
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania

Spis treści

  1. Wprowadzenie do testowania
  2. Plan wykładów
  3. Plan wykładu
  4. Notoryczne błędy
  5. Notoryczne błędy(1)
  6. Notoryczne błędy(2)
  7. Weryfikacja a Walidacja
  8. Proces weryfikacji i walidacji
  9. Statyczna i dynamiczna weryfikacja
  10. Statyczna i dynamiczna V&V
  11. Cele weryfikacji i walidacji
  12. Poziom pewności
  13. Planowanie
  14. Plan testów oprogramowania
  15. Czym jest testowanie?
  16. Czym jest testowanie? – c.d.
  17. Czym jest testowanie? – c.d.(1)
  18. Ograniczenia testowania
  19. Ograniczenia testowania – c.d.
  20. Ograniczenia testowania – c.d.(1)
  21. Ograniczenia testowania – c.d.(2)
  22. Aksjomat antyekstensjonalności
  23. Aksjomat antydekompozycji
  24. Aksjomat antykompozycji
  25. Pokrycie kodu
  26. Pokrycie instrukcji - przykład
  27. Pokrycie gałęzi - przykład
  28. Czarne strony pokrycia kodu
  29. Czarne strony pokrycia kodu – c.d.
  30. Testowanie mutacyjne
  31. Testowanie mutacyjne – przykład
  32. Rodzaje testów
  33. Rodzaje testów(1)
  34. Rodzaje testów(2)
  35. Rodzaje testów(3)
  36. Rodzaje testów(4)
  37. Testowanie regresyjne
  38. Metody tworzenia testów
  39. Profil błędów
  40. Koszt poprawienia błędu
  41. Testowanie a debugowanie
  42. Inspekcje a testowanie
  43. Inspekcje a testowanie – c.d.
  44. Inspekcje a testowanie – c.d.(1)
  45. Podsumowanie
Źródło: „https://wazniak.mimuw.edu.pl/index.php?title=Io-10-wyk-toc&oldid=48357”