Sw3.6-l10-1.2-Slajd1

JTAG Laboratorium Wprowadzenie

Czynniki w postaci wzrostu złożoności elementów, montażu powierzchniowego, nowych typów obudów z rosnącą gęstością wyprowadzeń spowodowały, że tradycyjne metody testowania funkcjonalnego oraz wewnątrzobwodowego stały się dalece niewystarczające i przyczyniły się do rozpoczęcia prac normalizacyjnych, których efektem jest między innymi szeregowa magistrala diagnostyczna IEEE 1149.1, która zdobywa popularność pod nazwa JTAG.

<< Poprzedni slajd | Spis treści | Następny slajd >>