PEE Moduł 11: Różnice pomiędzy wersjami
Z Studia Informatyczne
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania
Nie podano opisu zmian |
Nie podano opisu zmian |
||
Linia 291: | Linia 291: | ||
<math>L=\sqrt D\tau</math> | <math>L=\sqrt D\tau</math> | ||
gdzie D – stała dyfuzji | |||
|} | |} | ||
Linia 297: | Linia 299: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd26.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd26.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|'''Oddziaływanie pola elektrycznego na nośniki ładunku. Konduktywność półprzewodników.''' | ||
W warunkach równowagi termicznej ładunki swobodne w półprzewodniku jak w każdy ciele stałym poruszają się w sposób nie porządkowany, chaotycznie we wszystkich kierunkach. W tym wypadku trudno jest wyróżnić jeden uprzywilejowany kierunek w którym poruszałaby się przynajmniej większość ładunków, a zatem nie ma przepływu prądu. Jeżeli jednak w półprzewodniku zostanie wytworzone pole elektryczne np. wzdłuż osi x o natężeniu Ex to będzie ono oddziaływało na elektrony z siłą <math>F = -e\cdot E_x</math>. Pod wpływem tej siły wszystkie elektrony i dziury zaczną dryfować w kierunku pola, tzn. na ruch chaotyczny nałoży się ruch uporządkowany w kierunku osi x. Pomimo działania stałej siły powodującej przyspieszanie elektronów i dziur ruch ich jest ciągle hamowany przez siły oddziaływania atomów siatki krystalicznej (mówimy w tym przypadku o zderzeniach | |||
z atomami półprzewodnika i domieszki, które tkwią w węzłach siatki krystalicznej) z tego powodu przyjmujemy, że prędkości unoszenia vxn i vxp są stałe i równe średniej wartości prędkości elektronu i dziury pomiędzy kolejnymi zderzeniami. warto zauważyć, że wartości prędkości <math>v_x_n i v_x_p</math> są bardzo mała rzędu <math>10^-^4-10^-^3 m/s</math>. | |||
|} | |} | ||
Linia 304: | Linia 310: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd27.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd27.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|Zgodnie z definicją prądu | ||
<math>i=\frac{dQ}{dt}</math> | |||
gdzie dQ – ładunek przepływający w czasie dt przez przekrój S półprzewodnika | |||
<math>dQ=nev_x_ndtS+pe v_x_pdtS</math> | |||
Zatem gęstość prądu | |||
<math>j_xnev_x_n+pev_x_p</math> | |||
Ponieważ prawo Ohma w postaci różniczkowej ma postać | |||
<math>j_x=\gamma E_x</math> | |||
to przyrównując do siebie i przekształcając prawe strony równań otrzymujemy zależność na konduktywność półprzewodnika | |||
<math>\gamma =e(n\frac{v_x_n}{E_x}+\frac{v_x_p}{E_x})</math> | |||
Parametry <math>\frac{v_x_n}{E_x}\mu_n</math> oraz <math>\frac{v_x_n}{E_x}\mu_n</math> nazywamy ruchliwością nośników, odpowiednio elektronów i dziur. Ich wartość leży w zakresie <math>10^-^3 \div 10^-^2 m^2/V•s</math> dla metali, | |||
<math>4\cdot10^-^2 \div 4\cdot 10^-^1 m^2/V\cdots</math> dla krzemu i germanu oraz około <math>7 m^2/V\cdot s</math> dla innych półprzewodników typu III – V i zmienia się w funkcji temperatury. Dla krzemu obowiązuje zależność µn = 3µp. | |||
|} | |} |
Wersja z 12:39, 8 wrz 2006
![]() |
Slajd 1. Podstawy fizyczne działania elementów półprzewodnikowych.
|
![]() |
Tabela. Podstawowe materiały półprzewodnikowe |
![]() |
Przykłady defektów sieci krystalicznej |
![]() |
Obszar, w którym zachodzi bardzo silna (o kilka rzędów wielkości) zmiana koncentracji ładunku i typu przewodnictwa nazywa się złączem.
Szerokość złącza ma na ogół wymiar rzędu .
|
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |