TTS Moduł 11: Różnice pomiędzy wersjami
Z Studia Informatyczne
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania
Nie podano opisu zmian |
Nie podano opisu zmian |
||
Linia 138: | Linia 138: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:TTS_M11_Slajd13.png]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:TTS_M11_Slajd13.png]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|W fotodiodzie ze złączem ''p-n'' spolaryzowanym zaporowo, prąd płynący w kierunku zaporowym jest zależny od ilości zaabsorbowanych fotonów. Fotony absorbowane są w całej objętości półprzewodnika ze współczynnikiem absorpcji <math>\alpha\,</math>. Każdy absorbowany foton generuje parę elektron-dziura. Losy generowanych nośników są rozmaite. W obszarze zubożonym istnieje silne pole elektryczne, generowane elektrony poruszają się w stronę obszaru ''n'', dziury w stronę obszaru ''p'' (nie ma rekombinacji w obszarze zubożonym). | ||
Nośniki generowane w obszarze ''b'' szybko rekombinują i nie biorą udziału w prądzie fotodiody. | |||
Prąd <math>i_{FD}</math> zapisuje się znanym wzorem, ale wydajność kwantowa jest niewielka, gdyż znaczna część generowanych nośników nie bierze udziału w prądzie. | |||
Typowe dla fotodetektor warunki pracy to duże zaporowe napięcie <math>U_B\,</math>. Wtedy pole elektryczne jest silne i czas przelotu nośników przez warstwę zubożoną jest mały, rośnie szerokość warstwy zubożonej, rośnie więc wydajność kwantowa, a maleje pojemność diody. | |||
|} | |} | ||
Linia 145: | Linia 152: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:TTS_M11_Slajd14.png]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:TTS_M11_Slajd14.png]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|W fotodiodzie ''p-i-n'' między obszarem ''p'' i ''n'' umieszczony jest obszar i słabo domieszkowany – rys.4.9a. Obszar ''i'' jest przy polaryzacji zaporowej silnie zubożony. Obszar ''i'' wraz z obszarami dyfuzji po obu stronach zajmują znaczną długość W, znaczna część generowanych przez fotony nośników bierze udział w prądzie, rośnie <math>\eta\,</math>. | ||
Długość W jest kompromisem między rosnącym <math>\eta\,</math> a rosnącym czasem przelotu, co zmniejsza pasmo pracy fotodiody. Najlepsze wyniki uzyskano dla podwójnego heterozłącza, warstwy ''p'' i ''n'' wykonane z <math>InP</math>, który dla pasma <math>1,2...1,6 \mu m</math> jest przezroczysty, warstwa słabo domieszkowana wykonana z <math>InGaAs</math>, absorpcja zachodzi tylko w warstwie ''i''. Zauważmy, że: | |||
*dla InP: <math>E_g=1,35 eV, \lambda_{gran.}=0,92 \mu m</math>. | |||
*dla InGaAs: <math>E_g=0,75 eV, \lambda_{gran.}=1,65 \mu m</math>. | |||
Duża pojemność diody i czas przepływu ograniczają pasmo pracy fotodiody. Zmniejszając W, aby zmniejszyć czas przepływu, należy zmniejszyć średnicę złącza, aby przez to zmniejszyć pojemność. | |||
|} | |} | ||
Wersja z 12:15, 9 sie 2006
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |