PEE Moduł 11: Różnice pomiędzy wersjami
Z Studia Informatyczne
Przejdź do nawigacjiPrzejdź do wyszukiwania
Nie podano opisu zmian |
Nie podano opisu zmian |
||
Linia 135: | Linia 135: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd14.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd14.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"|W idealnym krysztale półprzewodnika samoistnego (ang. intrinsic), np. krzemu każdy elektron swobodny pozostawia w siatce krystalicznej dziurę, dlatego w danej temperaturze spełniony jest warunek <math>n_i</math> = <math>p_i</math> co oznacza, że | |valign="top"|W idealnym krysztale półprzewodnika samoistnego (ang. intrinsic), np. krzemu każdy elektron swobodny pozostawia w siatce krystalicznej dziurę, dlatego w danej temperaturze spełniony jest warunek <math>n_i</math> = <math>p_i</math> co oznacza, że , dla T=const | ||
W warunkach równowagi termicznej koncentrację nośników można obliczyć korzystając | W warunkach równowagi termicznej koncentrację nośników można obliczyć korzystając | ||
ze statystyki Boltzmana: | ze statystyki Boltzmana: | ||
Linia 208: | Linia 207: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd19.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd19.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|W tej sytuacji liczba elektronów swobodnych w paśmie przewodnictwa jest większa niż dziur w paśmie walencyjnym. Można zatem napisać: | ||
<math>N_n-N_d+n</math> | |||
gdzie | |||
*<math>N_n</math> – koncentracja elektronów swobodnych w półprzewodniku typu n | |||
*<math>n\,</math> – koncentracja elektronów na skutek generacji termicznej | |||
oraz | |||
*<math>P_n</math> = p | |||
gdzie | |||
*<math>P_n</math> – koncentracja dziur w półprzewodniku typu n | |||
*<math>p\,</math> – koncentracja dziur na skutek generacji termicznej | |||
<math>N_n >> P_n</math> | |||
|} | |} | ||
Linia 215: | Linia 231: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd20.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd20.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|Wprowadzenie domieszki donorowej spowodowało wielokrotny wzrost koncentracji elektronów swobodnych (donorowych) w paśmie przewodnictwa w stosunku do elektronów samoistnych powstających w procesie generacji termicznej par elektron-dziura. Jednocześnie zmniejszyła się koncentracja dziur w paśmie walencyjnym. | ||
Jeżeli do siatki krystalicznej półprzewodnika samoistnego (np. krzemu Si) wprowadzimy przez domieszkowanie małe ilości pierwiastka trójwartościowego, np.: glinu Al, indu In lub galu Ga to w niektórych węzłach atomy półprzewodnika zostaną zamienione atomami domieszki, zwanymi akceptorami. Brak czwartego elektronu walencyjnego dekompletuje jedno z wiązań kowalentnych w siatce krystalicznej. Występujący tu brak elektronu może być uzupełniony elektronem z sąsiedniego wiązania. Powstaje w ten sposób dziura, która może przemieszczać się w krysztale podobnie jak elektron walencyjny, ale w zasadzie niezależnie od niego. W tym wypadku w pobliżu pasma walencyjnego powstaje poziom energetyczny zwany poziomem akceptorowym. W temperaturze otoczenia około 300 K wszystkie atomy domieszki akceptorowej są zjonizowane. | |||
|} | |} | ||
Linia 222: | Linia 240: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd21.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd21.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|W tym przypadku można napisać: | ||
<math>P_p = P_a +p </math> | |||
<math>N_p = n </math> | |||
gdzie | |||
*<math>P_p</math> – koncentracja dziur w półprzewodniku typu p | |||
*<math>p\,</math> – koncentracja dziur na skutek generacji termicznej | |||
<math>P_p >> N_p </math> | |||
W półprzewodniku typu p liczba dziur w paśmie walencyjnym jest znacznie większa od liczby elektronów w paśmie przewodnictwa. | |||
|} | |} | ||
Linia 229: | Linia 257: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd22.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd22.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|Obszar, w którym zachodzi bardzo silna (o kilka rzędów wielkości) zmiana koncentracji ładunku i typu przewodnictwa nazywa się złączem. | ||
Szerokość złącza ma na ogół wymiar rzędu <math>10^{-7}-10^{-6} m</math>. | |||
|} | |} | ||
Linia 236: | Linia 266: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd23.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd23.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|'''Generacja i rekombinacja''' | ||
W stanie równowagi termicznej niezależnie od koncentracji domieszek w każdym półprzewodniku spełniony jest tzw. warunek neutralności, który mówi, że w każdym punkcie obszaru półprzewodnika wypadkowy ładunek elektryczny jest równy zeru, | |||
a wszelkie zaburzenia warunku neutralności powodują powstanie pola elektrycznego przywracającego stan równowagi | |||
|} | |} | ||
Linia 243: | Linia 277: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd24.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd24.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|Odpowiedni poziom koncentracji nośników zapewnia proces rekombinacji. | ||
W półprzewodniku samoistnym polega on na bezpośrednim przejściu elektronu z pasma przewodnictwa do pasma walencyjnego W półprzewodniku niesamoistnym proces ten jest bardziej złożony i odbywa się etapowo. Podczas przeskoku elektronu z pasma przewodnictwa do pasma walencyjnego przyjmuje on dodatkowe położenia, którym odpowiadają w modelu pasmowym poziomy energetyczne wewnątrz pasma zabronionego. Są to tzw. centra rekombinacji lub inaczej centra pułapkowe, które | |||
w czystych półprzewodnikach samoistnych stanowią defekty sieci krystalicznej, a w półprzewodnikach niesamoistnych dodatkowo także atomy międzywęzłowe szczególnych domieszek np. złota lub miedzi. | |||
|} | |} | ||
Linia 250: | Linia 287: | ||
{| border="0" cellpadding="4" width="100%" | {| border="0" cellpadding="4" width="100%" | ||
|width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd25.png|thumb|500px]] | |width="500px" valign="top"|[[Grafika:PEE_M11_Slajd25.png|thumb|500px]] | ||
|valign="top"| | |valign="top"|Proces rekombinacji jest opóźniony względem procesu generacji o krótki rzędu mikrosekund czas τ nazywany czasem życia nośników. Wartość tego czasu mówi o jakości struktury krystalicznej półprzewodnika oraz o stopniu jej uporządkowania. Obróbka termiczna w wysokich temperaturach skraca o rząd wielkości czas życia nośników. W czasie τ nośniki ładunku przebywają pewien odcinek drogi L nazywany drogą dyfuzji. Droga dyfuzji jest związana z czasem życia nośników równaniem: | ||
<math>L=\sqrt D\tau</math> | |||
|} | |} |
Wersja z 12:28, 8 wrz 2006
![]() |
Slajd 1. Podstawy fizyczne działania elementów półprzewodnikowych.
|
![]() |
Tabela. Podstawowe materiały półprzewodnikowe |
![]() |
Przykłady defektów sieci krystalicznej |
![]() |
Obszar, w którym zachodzi bardzo silna (o kilka rzędów wielkości) zmiana koncentracji ładunku i typu przewodnictwa nazywa się złączem.
Szerokość złącza ma na ogół wymiar rzędu .
|
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |